RFID
-ODNAJDYWANIE ŹLE ODŁOŻONYCH PRODUKTÓW
Projekt dot. odnajdywania źle odłożonych produktów czyli dotyczący problematyki wykrywania anomalii. W notatniku EDA.ipynb znajdziemy eksploracyjną analizę danych (z wyszczególnionymi opracowaniami konkretnych osób), która pomaga w zrozumieniu konstrukcji i struktury dostępnych informacji. Dzięki temu jesteśmy w stanie lepiej zrozumieć i opisać dany problem oraz wyciągnąć potrzebne do modelowania wnioski.
Zostały zaadoptowane trzy podejścia korzystające z różnych modeli w tym:
- DTW - Dynamic Time Warping - opracowane przez Jakuba Szczegieckiego - znajduje się w notatniku Model_DTW.ipynb
- DBSCAN - opracowane przez Magdę Sienkiewicz oraz Szymona Langer - znajduje się w notatniku DBSCAN_1-zmiany_df.ipynb oraz DBSCAN_1-zmiany_df-Copy1.ipynb
- Isolation Forest Algorithm - opracowane przez Szymona Pawłowskiego - znajduje się w notatniku Model_IsolationForest.ipynb
Finalna prezentacja uporządkowująca i zawierająca informację z każdego etapu została przygotowana i opracowana przez Patrycję Piórecką.
Autorzy: Magda Sienkiewicz, Patrycja Piórecka, Szymon Pawłowski, Szymon Langer, Jakub Szczegiecki